TY-9800型X熒光光譜儀

產品分類：X熒光光譜儀

產品簡介：X熒光光譜儀（XRF）由激發(fā)源（X射線管）和探測系統(tǒng)構成。X射線管產生入射X射線（一次X射線），激發(fā)被測樣品，產生X熒光（二次X射線），探測器對X熒光進行檢測。

產品詳情

TY-9800型X熒光光譜儀由激發(fā)源（X射線管）和探測系統(tǒng)構成。X射線管產生入射X射線（一次X射線），激發(fā)被測樣品，產生X熒光（二次X射線），探測器對X熒光進行檢測。

  一、主要用途

X熒光光譜儀根據各元素的特征X射線的強度，可以 測定元素含量。

近年來，X熒光光譜分析在各行業(yè)應用范圍不斷拓展，已成為一種廣泛應用于冶金、地質、有色、建材、商檢、環(huán)保、衛(wèi)生等各個領域，特別是在RoHS檢測領域應用得多也廣泛。

大多數分析元素均可用其進行分析，可分析固體、粉末、熔珠、液體等樣品，分析范圍為Be到U。并且具有分析速度快、測量范圍寬、干擾小的特點。

 二、優(yōu)缺點

     優(yōu)點

a) 分析速度快。測定用時與測定精密度有關，但一般都很短，10～300秒就可以測完樣品中的全部待測元素。

b) X射線熒光光譜跟樣品的化學結合狀態(tài)無關，而且跟固體、粉末、液體及晶質、非晶質等物質的狀態(tài)也基本上沒有關系。（氣體密封在容器內也可分析）但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現象。特別是在超軟X射線范圍內，這種效應更為顯著。波長變化用于化學位的測定 。

c) 非破壞分析。在測定中不會引起化學狀態(tài)的改變，也不會出現試樣飛散現象。同一試樣可反復多次測量，結果重現性好。

d) X射線熒光分析是一種物理分析方法，所以對在化學性質上屬同一族的元素也能進行分析。

e) 分析精密度高。目前含量測定已經達到ppm級別。

f) 制樣簡單，固體、粉末、液體樣品等都可以進行分析。

     缺點

a） 定量分析需要標樣。

b）對輕元素的靈敏度要低一些。

c）容易受元素相互干擾和疊加峰影響。